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Bandlücke aus T- und R-Messung: Frage (überfällig)
Status: (Frage) überfällig Status 
Datum: 10:59 Do 23.05.2013
Autor: QCO

Hallo,
vielleicht gibt es hier jemanden, der Erfahrung mit Spektrometrischen Messmethoden hat.
Was ich habe: im Rahmen einer Versuchsreihe wurde auf eine Polyimidfolie eine Schicht Molybdän aufgebracht (einheitlich) und dann für die verschiedenen Proben nasschemisch eine weitere Halbleiterschicht X mit verschiedenen Dicken. Die Schichten sind im Bereich 100nm dick, es kommt trotz Molybdän im sichtbaren Bereich noch Licht durch.
Was ich suche: für diesen direkten Halbleiter X soll die Bandlücke bestimmt werden.
Zur Verfügung steht mir im Moment nur ein Spektrometer für Reflexions- und Transmissionsmessungen; leider keine Möglichkeit, die Schichtdicken zu bestimmen.
Da X ein direkter Halbleiter ist, müsste man die Bandlücke ja über [mm]\alpha \propto C * \sqrt{E_{\gamma}-E_g} [/mm] bekommen. Aber wie kann ich [mm]\alpha[/mm] bestimmen?

        
Bezug
Bandlücke aus T- und R-Messung: Fälligkeit abgelaufen
Status: (Mitteilung) Reaktion unnötig Status 
Datum: 11:20 Do 30.05.2013
Autor: matux

$MATUXTEXT(ueberfaellige_frage)
Bezug
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